非接觸式全自動曲率及薄膜 參考價：面議
非接觸式全自動曲率及薄膜：全自動二維或三維測量彎曲、弧度、坡度和表面曲率，軟件模塊用于計算硅片和玻璃基板的薄膜應(yīng)力（晶圓應(yīng)力）。
球磨測厚儀 參考價：面議
球磨測厚儀，控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時間，球型，X，Y直徑。顯微鏡：放大倍數(shù)100*，自帶LED光源，目鏡最小刻度為0.02mm。
涂層附著力檢測儀 參考價：面議
涂層附著力檢測儀，工作過程：在使用洛氏硬度計完成常見的硬度測試后，用戶可以直觀評估樣品周邊裂縫。這個測試的樣品必須是在高速鋼或者硬度高于54HRC的基底上生長的...
摩擦學(xué)測試儀 參考價：面議
摩擦學(xué)測試儀，針-圓盤型和往復(fù)式（摩擦計）已經(jīng)在一個革新之路上被設(shè)計很久，在市場上已有20年經(jīng)驗和35年的摩擦學(xué)測量，目的是滿足摩擦學(xué)的需要。
輪廓儀 參考價：面議
輪廓儀，因為不準(zhǔn)確的結(jié)果，錯誤的涂層或基底材料會被選擇，并且最終應(yīng)用會高于預(yù)期的功能性的故障或與原始的計算相比較短的工作壽命。
界面力學(xué)分析儀 參考價：面議
界面力學(xué)分析儀，又名表面力儀（SFA），可以用來直接測量表面（諸如：無機物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態(tài)力和動態(tài)力，并在分子級領(lǐng)域內(nèi)研究界...
團簇離子束 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 參考價：面議
優(yōu)良的動態(tài)TOF-SIMS團簇離子束 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀，它使用直流主束和革命性的飛行時間分析儀，創(chuàng)建了成像質(zhì)譜的新范式。直流一次離子束的使用允許快速成像和...
真空摩擦學(xué)系統(tǒng) 參考價：面議
真空摩擦學(xué)系統(tǒng)用于研究超高真空或大氣環(huán)境條件下兩個表面之間的摩擦性質(zhì)。應(yīng)用負載從 1 到 10N。
納米級離子注入系統(tǒng) 參考價：面議
Q-One納米級離子注入系統(tǒng)是一種具有納米級精度的確定性單離子注入的最新工具。這是一種全新的設(shè)計，功能強大的FIB，能夠以驚人的精度和前所的未有的速度定位單個離...
紅外光晶圓鍵合檢測裝置 參考價：面議
紅外光晶圓鍵合檢測裝置，為了實現(xiàn)晶圓的可視化，需要一臺帶有USB端口和Windows 2000或更高版本的個人電腦。
芯片到芯片鍵合機 參考價：面議
使用芯片到芯片鍵合機，可以手動對齊兩個芯片。然后可以使芯片接觸，以進行陽極鍵合或各種膠合過程。單芯片對準(zhǔn)級包括三個線性軸和三個旋轉(zhuǎn)軸，為大多數(shù)對準(zhǔn)應(yīng)用提供了足夠...
紅外晶圓檢測顯微鏡 參考價：面議
紅外晶圓檢測顯微鏡，硅片是集成電路（IC）和微機電系統(tǒng)（MEMS）制造中使用的重要部件。在紅外（IR）范圍內(nèi)看穿這種半導(dǎo)體材料的能力有利于制造過程的質(zhì)量控制。
單離子注入聚焦離子束測試設(shè)備 參考價：面議
單離子注入聚焦離子束測試設(shè)備量子和納米級材料工程的先進平臺Q-One?是先進的聚焦離子束平臺，用于先進的器件制造和納米級材料工程。Q-One具有確定性單離子注入...
飛行時間二次離子質(zhì)譜測試設(shè)備 參考價：面議
飛行時間二次離子質(zhì)譜測試設(shè)備，先進的動態(tài)TOF-SIMS系統(tǒng)，它使用直流主束的飛行時間分析儀，創(chuàng)建了成像質(zhì)譜的新范式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續(xù)數(shù)據(jù)...
球磨測厚儀-測試設(shè)備 參考價：面議
球磨測厚儀-測試設(shè)備控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時間，球型，X，Y直徑，自帶LED光源，目鏡小刻度為0.02mm，自動厚度校準(zhǔn)，工作時間范圍：1-30m...
涂層附著力檢測儀-測試設(shè)備 參考價：面議
涂層附著力檢測儀-測試設(shè)備1.快速簡易：壓痕并觀察壓痕效果2.高性價比：寶石探針消耗低（劃痕儀的10倍使用壽命）
摩擦學(xué)測試設(shè)備 參考價：面議
摩擦學(xué)測試設(shè)備目的是滿足摩擦學(xué)的需要。為了增加機械部件的性能和可靠性，公司和大學(xué)研究越來越多的涂層和基底材料的摩擦參數(shù)和磨耗阻力。針對客戶的需求，我們開發(fā)了多種...
輪廓儀-測試設(shè)備 參考價：面議
輪廓儀-測試設(shè)備為了選擇佳涂層或基底材料，客戶有必要不僅僅檢測摩擦系數(shù)，也需要檢測磨損速率。磨損速率測量可以提供可靠的結(jié)果，這可以允許客戶來決定手否樣品能夠達到...
全自動貼片機-材料設(shè)備 參考價：面議
全自動貼片機-材料設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大是持續(xù)可調(diào)的。這通過可調(diào)放大倍率達到高精度的放置器件。該款是一款堅固并且可靠的機械設(shè)計，操作簡易，兼容性高的產(chǎn)品。
劃片機-材料設(shè)備 參考價：面議
劃片機-材料設(shè)備沿著中心線升高以便分離。薄膜層幫助元件阻攔污染或重壓。全部參數(shù)都由控制鍵盤設(shè)定。這是一款穩(wěn)定，抗振動，和易操作的設(shè)備。
薄膜電阻及厚度測試設(shè)備 參考價：面議
薄膜電阻及厚度測試設(shè)備可按照需求配置單個或多個針對不同樣品的高敏感探頭進行測量，并通過顯示模塊輸出。檢測終輸出結(jié)果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(dǎo)（...
真空快速退火爐-材料設(shè)備 參考價：面議
真空快速退火爐-材料設(shè)備一般都是以紅外鹵素?zé)魹榘l(fā)熱元件，升溫速度極快，采用熱電偶測溫并采用*的PID控制，具有很高的控溫精度，快速退火爐具有真空裝置，可在多種氣...
真空快速退火爐RTP-材料設(shè)備 參考價：面議
真空快速退火爐RTP-材料設(shè)備RTA（快速熱退火）； RTO（快速熱氧化）；注入退火；擴散；化合物半導(dǎo)體退火；滲氮；滲硅； 結(jié)晶化與致密化；
探針臺-測試設(shè)備 參考價：面議
探針臺-測試設(shè)備(Analytical Probe Station)我司代理的探針臺型號很多，有晶圓探針臺、LCD/OLED探針臺、RF探針臺、LD/PD探針臺...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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